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碳化硅微粉的檢測(cè)方法

點(diǎn)擊次數(shù):   更新時(shí)間:18/10/17 08:53:10     來源:www.tsmanager.com.cn 分    享:

  碳化硅微粉的檢測(cè)方法:
  碳化硅微粉要想判斷其硬度和切割性,就要進(jìn)行相關(guān)的檢測(cè),檢測(cè)方法如下:
  1、原子吸收:這種檢測(cè)方法能夠檢測(cè)硅的含量,判斷碳化硅的硬度,檢測(cè)的數(shù)值比較。
  2、電阻法顆粒分析:采用電阻法顆粒分析儀對(duì)碳化硅的粒徑進(jìn)行測(cè)量,這能有效判斷碳化硅的切割性,檢測(cè)效率比較高。
  3、顆粒分析儀:對(duì)顆粒形狀的系數(shù)測(cè)量,是檢測(cè)碳化硅切割效率和切割質(zhì)量的有效方法。
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